介電常數(shù)測試儀采用變頻電源技術，利用單片機和電子技術進行自動頻率變換、模/數(shù)轉換和數(shù)據運算，自動化，智能化，測量數(shù)據在強干擾條件下是穩(wěn)定的，但測試數(shù)據在使用中顯然是不合理的通常如下。
 

　　在現(xiàn)場測試時，用鉤桿對產品進行檢測時，吊鉤必須與試驗產品良好接觸，否則接觸件的排放會引起嚴重的數(shù)據波動，特別是在過厚的氧化層或空氣管擺動的排水管中導致接觸不良。
 

　　接地不良也會引起儀表保護數(shù)據的嚴重波動，接地點的涂層應報廢，零電阻接地。
 

　　用端蓋法測量電磁式PT時，由水分引起的T形網絡干擾引起的負介電損耗可以用常規(guī)法或端壓法測量，直接測量CVT的低耦合電容會導致負的介電損耗，因此應采用自激法。
 

　　由于長期使用，容易造成試驗線隱性短路，芯線屏蔽層短路或與插頭接觸不良，用戶應始終維護測試線。當測試標準電容器測試產品時，應使用全屏蔽插頭來消除額外雜散電容的影響，否則，介質損耗測試儀的精度就無法反映出來。自勵方法是測量VT中的C，非高壓線路應暫停，否則，附加的雜散電容和介質損耗會導致地面測量誤差。
 

　　使用萬用表測量測試電路是否開路，或芯線和屏蔽是否短路，輸入功率過高或過低，接地良好，使用正極或負極導線測量具有已知電容和介質損耗的標準電容器或電容器樣品，如果結果正確，則可判斷儀器故障。
 

　　以上就是導致介電常數(shù)測試儀測試數(shù)據不合理的原因及解決方法，用戶在使用前需要對這些情況都有一定的了解，這樣才能及時調整維修測試儀，保證其測試數(shù)據的正確性。